Misurazione precisa del profilo superficiale: nastro replica e calibro
Un profilo superficiale correttamente determinato (picco-valle) è fondamentale per l’adesione e la durata dei rivestimenti. Il metodo comprovato: nastro replica in combinazione con un calibro di spessore fornisce risultati riproducibili e conformi agli standard.
Perché il profilo superficiale è importante
Un profilo ottimale aumenta l’area superficiale e crea un’ancoraggio meccanico per il rivestimento. Profili troppo alti sprecano materiale e restano non sigillati con strati sottili; profili troppo bassi offrono poca adesione.
Come misurare con nastro replica e calibro
- Scegliere il tipo di nastro corretto: 12–25 µm = "Coarse Minus", 20–64 µm = "Coarse", 38–115 µm = "X-Coarse", >115 µm = "X-Coarse Plus".
- Rimuovere il nastro dal rotolo, togliere la pellicola protettiva, applicare sulla superficie e strofinare con lo strumento fino a ottenere un’area grigia uniforme.
- Misurare con il calibro e sottrarre 50 µm (2 mils) per il supporto in Mylar – questo è il valore picco-valle.
- Se le letture sono vicine ai limiti del nastro, utilizzare entrambi i tipi e fare la media.
Norme e metodi di confronto
Questo metodo è conforme a ASTM D4417-C, ISO 8503-5 o NACE RP0287. Alternative come i comparatori di superficie sono rapide ma soggettive; il nastro replica offre anche una “prova di test” archiviabile.
Quando utilizzare calibri digitali
I calibri digitali sono più rapidi, precisi (±5 %), memorizzano le letture e consentono l’esportazione dei dati – ideali per ampie aree di ispezione.
Lista di controllo
- Scegliere il nastro in base all’altezza del profilo prevista.
- Eseguire almeno due misurazioni per punto.
- Documentare e calcolare la media dei valori.
- Calibrare il calibro e azzerare se necessario.
- Conservare i campioni di nastro come prova.
